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帕納科XRF光譜儀Epsilon 4
產品型號: 產品描述: 測試參數:
產品描述

快速、準確的原位元素分析
借助 XRF 光譜儀 Epsilon 3 系列的經驗打造而成,Epsilon 4 是一款多功能臺式 XRF 分析儀,廣泛用于從研發(fā)到流程控制等各個領域中需要從氟 (F) 到镅 (Am) 元素分析的行業(yè)細分市場。 Epsilon 4 將激發(fā)和檢測技術與成熟軟件和智能設計相結合,其分析性能更接近于功率更高的落地式 XRF 光譜儀。
對于傳統(tǒng)上由 ICP 和 AAS 來實現(xiàn)的復雜應用,這提供了一個簡單易行的替代方案。通過將 XRF 光譜儀放置在線旁邊,嘗試進行現(xiàn)場或在線 XRF 監(jiān)控,您的反饋時間將從幾小時縮短到幾分鐘。 
Epsilon 4 光譜儀具有高靈活性,適用于廣泛的應用, 隨時準備為您價值。
帕納科XRF光譜儀Epsilon 4|能量色散式 X-射線熒光光譜儀|多功能臺式 XRF 分析儀概述:
◆Epsilon 4 安裝要求簡單
由于較低的基礎設施要求,可以將 Epsilon 4 放到過程中靠近線的廣泛位置。 其高性能使大多數應用能夠在環(huán)境條件下運行,從而降低氦氣或真空維護的成本。
◆越分析的價值
能量色散式 X-射線熒光光譜儀可分析從碳 (C) 到镅 (Am) 的元素,涵蓋從百萬分之一以下到 100 wt% 的濃度。 
Omnian 用于無標分析,當需要快速分析鑒定時,則使用 FingerPrint 來進行材料測試,或者使用 Stratos 來對涂層、表面層和多層結構進行快速、簡單和非破壞性的分析。 還可以使用支持與 FDA 21 CFR 第 11 部分等法規(guī)合規(guī)的增強的數據性,或者使用 Oil-Trace 量化生物燃油混合燃料到新潤滑油和使用過的潤滑油。
◆高樣品兼容性
Epsilon 4 對于不同形態(tài)的樣品都游刃有余,典型樣品如粉末、液 體和固體??梢詰糜趶乃嗟嚼w維等不同類型產品的元素成分分析。如果沒有標準物質可用或樣品種類太多,馬爾文帕納科無標分析解決方案將為您提供快速可靠的分析結果。
Epsilon 4 是穩(wěn)健、可靠的傳統(tǒng)系統(tǒng)替代方案,已在許多行業(yè)和應用領域中得到廣泛應用,甚至在輕元素分析為重要的環(huán)境中,包括:水泥、采礦、選礦、鋼鐵及有色金屬、RoHS 篩選及定量、石油和石化、聚合物及相關行業(yè)、玻璃、法醫(yī)學、制藥、保健產品、環(huán)保、食品和化妝品。
帕納科XRF光譜儀Epsilon 4|能量色散式 X-射線熒光光譜儀|多功能臺式 XRF 分析儀特點:
◆靈活的配置
Epsilon 4 是高度靈活的分析工具,可在 10 瓦版本中用于從研發(fā)到過程控制等各個領域的元素分析 (F - Am)。 要實現(xiàn)更高的樣品處理量或擴展的輕元素功能,并且處于更加具有挑戰(zhàn)性的環(huán)境,可以使用 15 瓦版本,甚至可以對碳、氮和氧進行分析。
◆新發(fā)展
Epsilon 4 儀器將射線探測技術與分析軟件結合到了一起。 15 瓦 X 射線管與大電流 (3 mA)、硅漂移探測器 SDD30 以及緊湊的光路設計相結合,提供了甚至過 50 瓦功率 EDXRF 系統(tǒng)以及臺式 WDXRF 系統(tǒng)的分析性能 - 同時還額外提高了能源利用效率。
◆迅速、靈敏
利用可生成更高強度的硅漂移探測器技術實現(xiàn)迅速測量。
探測器電路提供的線性計數率可過 1,500,000 cps(在 50% 的死時間下),和計數率無關的分辨率通常高于 135 (eV@300 kcps),可更好地對鄰近譜線進行分離。強有力的探測性能使得 Epsilon 4 能譜儀越了傳統(tǒng)臺式儀器,實現(xiàn)了更快的測試響應和更低的檢出限。 這使得 Epsilon 4 光譜儀能夠以全功率運行,因此與傳統(tǒng)的 EDXRF 臺式儀器相比,實現(xiàn)了更高的樣品通量。
◆降低氦氣消耗量
Epsilon 4 的高性能使得許多應用可以在空氣環(huán)境中運行,從而減少了氦氣和真空的使用成本和切換時間。 在空氣中測量時,鈉、鎂和鋁的低能量 X 射線光子對氣壓和溫度變化很。 內置溫度和氣壓傳感器可補償這些大氣變化,尋求在各種氣候條件下檢測的結果不受影響。
行業(yè)版本:○礦業(yè)和礦產○石油和燃油○潤滑油○制藥和化妝品○食品與環(huán)境○建筑材料○聚合物、塑料和油漆

帕納科XRF光譜儀Epsilon 4|能量色散式 X-射線熒光光譜儀|多功能臺式 XRF 分析儀參考技術指標:

樣品處理

射線管

檢測器

軟件

具備 10 個位置的可移動樣品交換器

穩(wěn)定性高的金屬陶瓷側窗

高分辨率硅漂移探測器 (SDD),通常為 135 eV @ Mn-Kα

通過 Omnian 無標分析解決方案,進行元素篩選

光譜儀多可容納直徑 52 毫米(英寸)的樣品

50 微米薄鈹窗,對輕元素高度(Na、Mg、Al、Si

大計數率 1,500,000 c/s(在 50% 的死時間下)

通過 FingerPrint 解決方案,進行合格/不合格分析

包含自旋器,以提高空氣濾清器分析的準確性

Ag  X 射線光管,獲得 P Cl 分析的佳性能

薄入探測器射窗,高靈敏度

在監(jiān)管環(huán)境下,增強數據性

大樣品模式大可分析高 10 cm 的較大樣品



用于多層樣品的 Stratos




使用 Oil-Trace,在新潤滑油和使用過的潤滑油中對磨損金屬進行靈活校準


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